基于太陽電池材料少子壽命測試儀的研制開發(fā).pdf

1、少數(shù)載流子壽命（簡稱少子壽命）是半導體材料的一項重要參數(shù)，它對半導體器件性能、太陽電池效率都有重要的影響。日益發(fā)展的光伏新能源迫切需要在實驗室、工業(yè)現(xiàn)場利用少子壽命來檢測太陽電池原材料、監(jiān)測太陽電池生產(chǎn)工藝。為了滿足光伏電池設計、生產(chǎn)的不斷需要，在國家863項目《薄膜太陽電池測試平臺》的支持下，對基于太陽電池材料少子壽命的測試進行調(diào)查和研究，并自主研制開發(fā)少子壽命測試儀。論文第二章將會闡述過剩少數(shù)載流子的產(chǎn)生機理和復合機理，復合機理包

2、括直接輻射復合、直接俄歇復合、通過體內(nèi)復合中心的間接復合、通過表面復合中心的間接復合，對于太陽電池材料，測量有效壽命可以歸結為體壽命和表面復合的影響。少子壽命的測試方法有很多種，本文重點研究的是微波反射光電導衰減法，其最大特點是可以非接觸、無損地測量樣品的少子壽命。采用微波反射光電導衰減法研制開發(fā)半導體材料少子壽命測試儀，在論文第三章將詳細介紹測試儀的研制開發(fā)過程。利用脈沖激光源系統(tǒng)、微波系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)三部分搭建的測試硬件平臺，能