基于阻變存儲(chǔ)芯片功能仿真與驗(yàn)證系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，大容量存儲(chǔ)器的研發(fā)愈發(fā)受到重視。存儲(chǔ)器的驗(yàn)證測(cè)試對(duì)于縮短研發(fā)周期，保障產(chǎn)品質(zhì)量起到了至關(guān)重要的作用。而集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法具有良好的人機(jī)交互界面、自動(dòng)化程度強(qiáng)、易操作等特點(diǎn)，降低了操作人員的使用門檻，因此得到了廣泛的應(yīng)用。目前高端ATE市場(chǎng)被國(guó)外壟斷且價(jià)格昂貴。
　　本文基于阻變存儲(chǔ)器芯片（RAM）的功能仿真開(kāi)發(fā)了一款經(jīng)濟(jì)實(shí)用的驗(yàn)證平臺(tái)，主要內(nèi)容有:
　　1、

2、研究了存儲(chǔ)器測(cè)試的基本原理和測(cè)試技術(shù)，討論了ATE的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀。
　　2、介紹了阻變存儲(chǔ)器基本原理，詳細(xì)研究了待測(cè)阻變存儲(chǔ)器芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)與時(shí)序工作原理;并對(duì)芯片進(jìn)行了詳細(xì)的功能時(shí)序驗(yàn)證分析，明確了驗(yàn)證系統(tǒng)的測(cè)試目的。
　　3、詳細(xì)介紹了基于待測(cè)RRAM芯片開(kāi)發(fā)的驗(yàn)證系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)。包含F(xiàn)PGA器件選型、引腳電路設(shè)計(jì)、程控電源設(shè)計(jì)。
　　4、重點(diǎn)介紹了驗(yàn)證系統(tǒng)的可編程邏輯設(shè)計(jì):如ATE通信協(xié)議設(shè)計(jì)、定時(shí)器設(shè)計(jì)、格式