焊接檢驗(yàn)主要內(nèi)容

1、第1章：緒論：緒論焊接檢驗(yàn)方法分類：焊接檢驗(yàn)方法分類：1、按焊接的數(shù)量分類a)抽檢b)全檢2、按是否要將被檢件破壞可分為：a）破壞性檢驗(yàn)力學(xué)性能實(shí)驗(yàn)化學(xué)分析試驗(yàn)金相檢驗(yàn)b）非破壞性檢驗(yàn)（無(wú)損檢測(cè)）渦流探傷射線探傷超聲探傷目視探傷外觀檢驗(yàn)滲透探傷焊接檢驗(yàn)的依據(jù)：焊接檢驗(yàn)的依據(jù)：1、施工圖樣和訂貨合同（1可拆分為2點(diǎn)）2、相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范3、檢驗(yàn)的工藝性文件檢驗(yàn)過(guò)程的檢驗(yàn)過(guò)程的5個(gè)基本環(huán)節(jié)個(gè)基本環(huán)節(jié):按焊接產(chǎn)品質(zhì)量的形成過(guò)程與焊接質(zhì)量管

2、理的順序可分為1，焊前檢驗(yàn)2，焊接過(guò)程檢驗(yàn)3，焊后檢驗(yàn)4，安裝調(diào)試質(zhì)量檢驗(yàn)5，產(chǎn)品服役質(zhì)量檢查第二章：缺陷第二章：缺陷按缺陷性質(zhì)將缺陷分為六大類按缺陷性質(zhì)將缺陷分為六大類：裂紋、孔穴、固體夾雜、未熔合和未焊透、形狀缺陷其它缺陷（如電弧擦傷、飛濺、表面撕裂、磨痕等）。1、按焊接缺陷的形態(tài)可分為：a平面缺陷，如裂紋、未熔合b體積缺陷如氣孔、夾渣2、按缺陷出現(xiàn)的位置可分為：a表面缺陷（用外觀或表面無(wú)損檢測(cè)方式檢測(cè)）b內(nèi)部缺陷（用解剖、金相、內(nèi)

3、部無(wú)損檢測(cè)方法檢測(cè)）第三章：射線探傷：射線探傷1，射線探傷原理；，射線探傷原理；利用射線能穿透物質(zhì)且其強(qiáng)度會(huì)被物質(zhì)所衰減的特性檢測(cè)物質(zhì)內(nèi)部損傷的方法稱為射線檢測(cè)。射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同而引起射線透過(guò)工件后的強(qiáng)度差異，使缺陷能在射線底片或X光電視屏幕上顯示出來(lái)。2，X射線的種類射線的種類1）、按其波長(zhǎng)分為：、按其波長(zhǎng)分為：a)連續(xù)X射線波長(zhǎng)在一定范圍內(nèi)連續(xù)變化的X射線稱為連續(xù)X射線（或白色X射線

4、）。其強(qiáng)度與管電壓和管電流有關(guān)。b)標(biāo)識(shí)X射線波長(zhǎng)相對(duì)單一的X射線稱為標(biāo)識(shí)X射線（特征X射線）。該波長(zhǎng)與元素種類有關(guān)。2）、按能量大小分：、按能量大小分：a）普通X射線b）高能X射線：指電子加速器中產(chǎn)生的能量在一百萬(wàn)電子伏特以上的X射線。特點(diǎn)：能量大，穿透能力強(qiáng)，散射線少，透照幅度寬。3，射線的衰減方式：，射線的衰減方式：電子對(duì)的產(chǎn)生和光電效應(yīng)4，射線探傷系統(tǒng)組成，射線探傷系統(tǒng)組成1）射線源：（X射線機(jī)、γ射線機(jī)或加速器）2）射線膠片3

5、）增感屏作用：1、增感效應(yīng)；2、濾波作用總之：提高膠片的感光速度和底片的成相質(zhì)量。膠片和增感屏的接觸：在透照過(guò)程中始終相互緊貼4）相質(zhì)計(jì)象質(zhì)計(jì)是用來(lái)檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的，衡量該質(zhì)量的數(shù)值是相質(zhì)指數(shù)Z，相質(zhì)指數(shù)的確定相質(zhì)指數(shù)的確定:象質(zhì)指數(shù)等于底片上能識(shí)別出的最細(xì)鋼絲線的編號(hào)相質(zhì)計(jì)的放置相質(zhì)計(jì)的放置：線型象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表面上被檢焊縫一段（被檢區(qū)長(zhǎng)度14部位）鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直。細(xì)鋼絲至于外側(cè)。當(dāng)射線源側(cè)無(wú)

6、法放置象質(zhì)計(jì)時(shí)，可將其放在膠片側(cè)的工件表面上（要求同上）同時(shí)必須在最粗鋼絲的右下角（左型）或左下角（右型）放置一個(gè)鉛字母“F”，表示為膠片側(cè)放置。5）鉛罩、鉛光闌——限制射線照射區(qū)域大小和得到合適的照射量。6）鉛遮板——屏蔽前方散射7）底部鉛板（又稱背部防護(hù)鉛板）——防止背部散射8）濾板——吸收掉射線中波長(zhǎng)較大的譜線，減少散射。9）暗盒(cassette)——保護(hù)膠片。放置：在透照過(guò)程中始終與工件緊貼。10）標(biāo)記帶。包括：1、定位標(biāo)記：

7、、定位標(biāo)記：包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記↑即有效區(qū)段標(biāo)記.作用：指明透照區(qū)段的界限。1）定位標(biāo)記應(yīng)放置在被照工件上，不得放在鉛字牌上。2）中心標(biāo)記離焊縫邊緣5mm處，縱箭頭指向焊縫且位于被檢區(qū)的中心，橫箭頭指向下一個(gè)透照位置。2、識(shí)別標(biāo)記、識(shí)別標(biāo)記：（包括工件編號(hào)、在。允許有一定數(shù)量和一定尺寸的條狀?yuàn)A渣和圓形缺陷及未焊透（指非氬弧焊封底的不加墊板的單面焊）存在。（4）IVIV級(jí)焊縫指焊縫缺陷超過(guò)III級(jí)者。3、圓形缺陷評(píng)級(jí)、圓形缺陷評(píng)級(jí)1）、

8、圓形缺陷在規(guī)定的評(píng)定區(qū)內(nèi)進(jìn)行評(píng)定，評(píng)定區(qū)應(yīng)選擇在缺陷最嚴(yán)重的部位。2）、評(píng)定圓形缺陷應(yīng)將缺陷換算成缺陷點(diǎn)數(shù)。a)缺陷長(zhǎng)徑大于12T時(shí)評(píng)為IV級(jí)，小于12T時(shí)換算成缺陷點(diǎn)數(shù)，小于一定尺寸時(shí)不計(jì)點(diǎn)數(shù)。（T——板厚）b)當(dāng)缺陷與評(píng)定區(qū)邊界相接時(shí)，應(yīng)把它劃為該評(píng)定區(qū)內(nèi)計(jì)算點(diǎn)數(shù)。3）、參考圓形缺陷的分級(jí)表4）、對(duì)不計(jì)點(diǎn)數(shù)缺陷的限制對(duì)不計(jì)點(diǎn)數(shù)缺陷的限制（1）I級(jí)焊縫內(nèi)不計(jì)點(diǎn)數(shù)的圓形缺陷，在評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè)，超過(guò)10個(gè)降為II級(jí)。（2）當(dāng)T≤5

9、mm時(shí)，在II級(jí)焊縫內(nèi)不計(jì)點(diǎn)數(shù)的圓形缺陷在評(píng)定區(qū)內(nèi)也不得超過(guò)10個(gè)，否則降為III級(jí)。1010射線探傷中的安全防護(hù)射線探傷中的安全防護(hù)1、距離防護(hù)實(shí)際中安全距離應(yīng)通過(guò)劑量?jī)x測(cè)量而確定。2、時(shí)間防護(hù)每人每天實(shí)際接受劑量不大于17.4mrem。3、屏蔽防護(hù)際探傷中往往是三種防護(hù)方法同時(shí)使用。在工地或車(chē)間探傷時(shí)還應(yīng)注意必須設(shè)置危險(xiǎn)區(qū)標(biāo)記。第4章超聲波探傷超聲波探傷11超聲波探傷原理：超聲波探傷原理：一、超聲波的產(chǎn)生和接收：超聲波的產(chǎn)生——壓電

10、效應(yīng)，超聲波的接收——探頭二、超聲波的性質(zhì)a良好的指向性:直線性和束射性b、能在彈性介質(zhì)中傳播，不能在真空中傳播c界面的透射、反射、折射和波型轉(zhuǎn)換2波型：波型：a縱波用于鋼板、鍛件、焊縫探傷；b橫波，用于焊縫鋼管探傷。c表面波(瑞利波R)用于鋼板、鋼管、鍛件、復(fù)雜工件表面探傷。d板波（蘭姆波）P在極薄的板狀介質(zhì)中傳播。用于檢測(cè)薄板及其構(gòu)件內(nèi)部缺陷。3半擴(kuò)散角半擴(kuò)散角θ=arcsin1.22λDλ——波長(zhǎng)(mm)D——壓電晶片直徑（mm）

11、θ越小，波束指向性越好，超聲波能量集中，探傷靈敏度高，分辨力高和定位精確。近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N≈D2(4λ)(mm)4垂直入射異質(zhì)界面時(shí)的透射、反射和繞射垂直入射異質(zhì)界面時(shí)的透射、反射和繞射反射系數(shù)K=W反W入當(dāng)缺陷尺寸小于λ2時(shí)，聲波將繞過(guò)其邊界繼續(xù)前進(jìn)，產(chǎn)生繞射，使反射波減弱。因此，超聲波能探測(cè)到的最小缺陷尺寸為df=λ25傾斜入射異質(zhì)界面時(shí)的反射、折射、波型轉(zhuǎn)換傾斜入射異質(zhì)界面時(shí)的反射、折射、波型轉(zhuǎn)換第一臨界角α1m=arcsi

12、n[（CL1CL2）sinγL]第二臨界角α2m=arcsin[（CL1CS2）sinγS通常斜探頭探傷時(shí)采用橫波，入射角α=α1m～α2m；而用表面波探傷時(shí)入射角α＞α2m6超聲波衰減的方式超聲波衰減的方式1）散射衰減頻率越高、晶粒尺寸越大，散射引起的衰減越大。金屬材料以散射衰減為主。2）吸收衰減金屬介質(zhì)—吸收衰減可忽略不計(jì)，液體介質(zhì)—吸收衰減是主要的。3）擴(kuò)散衰減7脈沖反射法超聲波探傷基本原理脈沖反射法超聲波探傷基本原理A型顯示超聲