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文檔簡介
1、湖南大學物理與微電子科學學院,王玲玲2016 年 3 月,,物理與微電子科學學院,School of Physics and MicroelectronicsScience,光電子學 第四章 光輻射在介質波導中的傳播 第十七講,問題一:光纖的損耗有哪幾種?,吸收損耗:
2、 本征吸收損耗,紫外區(qū)吸收,電子躍遷引起; 紅外區(qū)吸收,晶格振動及多聲子過程引起; 過渡金屬正離子和水氫氧根負離子; 熔融石英玻璃含水;原子缺陷吸收損耗; 耗散損耗:
3、 線性散射損耗,瑞利散射,米氏散射;
4、 非線性散射損耗;波導散射損耗;彎曲損耗: 彎曲處曲率半徑越小,損耗越大;?越長,損耗越大;,第十六講要點回顧,問題二:什么是光纖的色散?,第十六講要點回顧,問題三:光纖的色散有哪幾種?哪些屬于模內色散?哪些屬于模間色散?單
5、模光纖與多模光纖分別由什么為主?,?? 引起色散:材料色散,波導色散,模間色散; 模內色散:材料色散與波導色散(單模光纖); 模間色散(多模光纖)。,第十六講要點回顧,問題四:材料色散主要由什么決定?,第十六講要點回顧,問題五:波導色散主要由什么決定?,波導色散:光纖幾何特性使信號相位和群速度隨?變引起色散,光纖結構引起,屬模內色散;,入射角不同致不同?光波傳輸路程不同引起時延差致波導色散; 波導色散:與尺寸(線經a)有
6、關; 與?有關;,a一定,?越長,波導色散越嚴重(短?相反),與材料色散相反。,第十六講要點回顧,問題六:模間色散主要由什么決定?,第十六講要點回顧,,,光輻射在介質波導中的傳播,4,,,§4-7 光纖損耗與色散,§4-6 光纖中電磁波模式理論,§4-4 矩形介質波導基本概念,§4-3 平板波導的電磁理論,§4-2 介質平
7、板光波導的射線分析方法,§4-1 光在介質分界面上的反射與折射,§4-5 光纖中的射線分析(上、下),§4-8 光波導裝置與應用,第十五講要點,光開關和調制器,20世紀60年代早期光波導現象,理論發(fā)展,裝置問世。 但:有些裝置未經受t考驗,性能差淘汰; 有些局限,或僅應用潛在可能。,部分光波導裝置應用成功。 領先摻鈦鈮酸鋰(Ti:LiNbO3),適合波導,特大
8、電光和聲光系數。 商品化大塊基片出售,易加工。,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,介紹波導 (1)制造工藝、 (2)裝置結構、 (3)主要性能、 (4)應 用。,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,波導范圍廣, 制造技術
9、各不同。 平板波導(一方向不受限)和通道波導(四周包圍物,矩形,光纖)集成光學與甚大規(guī)模集成(VLSI)微電子學類似; 目標: 同基片制大量小型互聯(lián)裝置,及LED發(fā)光二極管、LD半導體激光器和探測器;,基片正確定向,拋光和表面凈化,波導材料薄層附加到基片表面。 非晶材料, 直接沉積任何基片上; 結晶層無應力外延生長技術附加到結晶基質上。,兩技術
10、都派生不同方法,各具優(yōu)點?;|表面性質通過擴散 或注入不同類物質變。 不需部分刻蝕法去除,基片表面發(fā)生,表面部分區(qū)形成一定圖案,光刻技術。 光刻:材料沉積, 材料去除。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,多光電子裝置基元?m級,加工超凈間進行。
11、 濾除灰塵顆??諝?,否光刻波導條紋現裂痕; 恒T和濕度,可重復; 凈室人員穿特制衣服,設計使帶進房間污染最小。上措施—合格率—可靠性—使用壽命(聯(lián)系)。,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,Si 基鐵電光波導示意圖,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和
12、調制器 三、干涉濾波器,基片—非晶,玻璃;晶片,機械電子性能好。 電光裝置:基片絕緣結晶LiNbO3; 光發(fā)射裝置:InP或GaAS制備。 厚0.5mm,橫向幾cm,結晶基片原料鋼玉,大塊晶體。 結晶:氣?液或非?結晶固態(tài)相變。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二
13、、開關和調制器 三、干涉濾波器,Si 基鐵電光波導示意圖,液體是所需材料化合物高純熔融物, 固體小塊籽晶。液體分子逐層附著表面,每層與前層正確相對位置。 如:Si片單晶爐提拉生長。數十kg電子學級Si入熔爐,射頻誘導加熱器或電阻加熱線圈將其熔化。熔爐與熔化Si不反應,以免摻雜質。 Si石Tm 1412℃,不純物析出。熔爐石墨底座?機械強度。 熔融在惰性氣體Ar或真空進行。,Si 基鐵電光波導示意圖,1
14、. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,GaAs(Tm 1238℃)類基片技術生長。 區(qū)別:GaAs加熱分解,熔融物上方As蒸汽壓須控制。 BN坩堝,磁場熔融,“磁滯”抑制熱能對流, 優(yōu)點:?生長晶體位錯數。 長晶體,
15、XRD晶軸定向,切片,刻蝕10?m,去除切割和成形晶格缺陷。 表面拋光,得優(yōu)于2?m平面度。,① 沉 積 ② 外延生長,基片準備好,制備波導膜。 方法: 沉積和外延生長。 沉積基片表面1?m厚電介質或金屬膜: 真空蒸發(fā):基片和鍍膜材料置真空罩,后者加熱Tm,熱能使孤立原子逃離熔融物飛往基片,附著表層。 類非真空鍍膜:真空鍍膜不同射頻濺鍍法,鍍膜室充N,Ar.,基片,靶,1. 平板波導加工 2.
16、基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,基片在鍍膜材料附近,鍍膜室充P 10-3-10-2乇Ar2;,鍍膜材料陰極(靶);基片陽極(圖7-2)。,交流射頻E(13.56MH)作用,Ar進入等離子態(tài)(離子與自由電子混合)。 帶正電荷Ar離子先轟擊陰極靶使
17、 其發(fā)射鍍膜原子—濺射,入射快速 離子與靜態(tài)原子間動量交換過程。 發(fā)射方向隨機,大量原子 飛向基片附著表面。 濺鍍適合金屬靶。 速率依賴靶性質,波導層較厚, 長沉積t.,陽極 陰極,基片,靶,① 沉 積 ② 外
18、延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,A、化學汽化沉積(CVD)——非真空鍍膜: 熔爐,一大氣壓熱氣體混合物從基片上方流過,化學反應,生成需化合物,漸沉積在基片表面; 基片按不同方位放置,取決氣流方向//還是?豎直,與加熱方式有關
19、。,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕
20、6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,圖1 雙梯度法制備ZnCdSSe nm線實驗裝置,圖2 ZnxCd1-xSySe1-y nm線各元素占百分比與處基底位置關系,靠近放置相應反應物石英管側呈較高比例,印證反應物濃度梯度對ZnCdSSe組分影響,基于氣—液—固(VLS)機制半導體合金nm線化學氣相沉積(CVD)雙梯度法理論,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制
21、備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,圖3 x, y含量與處基底位置關系,插圖x, y實驗數據,圖4 與位置相關ZnxCd1-xSySe1-y nm線禁帶寬度與發(fā)射峰?理論預期值(黑方塊)與實驗數據(紅三角形)對比;禁帶寬度對比;發(fā)射峰?對比。,① 沉 積 ② 外延生長,1.
22、平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,圖5 不同內置石英管位置,合金nm線組分x, y與所處基底位置關系(a) z1=0, z2=20(b) z1=5, z2=15 (c) z1=10, z2=10,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波
23、導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,圖6 不同反應物濃度梯度下,ZnCdSSe nm線禁帶寬度,圖7 不同反應物濃度梯度及生長T梯度,汽相過飽和度對應基底不同位置關系,裝載反應物石英管互靠攏(z1=5mm,z2=15mm),z向過飽和度呈較大波動,基底不同位置nm線
24、不同生長機制,隨載有反應物石英管靠攏,生長產物能帶間隙跨度呈逐漸縮小趨勢。,非晶膜沉積隨機,無固定晶態(tài)結構。 Ⅲ-V半導體光電裝置要求膜層分子有序排列,外延法生長。 外延生長思想: 基片有序生長模板,膜與基片參數匹配; 生長材料與基片相同化學成分——同質外延; 兩種材料不同化學成分——異質外延。,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4
25、. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,外延生長可基于蒸汽或液體。 后者可<基片Tm實現。 5%As+95%Ga混合88℃(<GaAsTm1238℃)熔融, 一個As與一個Ga結合,生成GaAs,基片表面外延生長。 Ga/As熔融過程變,開
26、始比值高。GaAs基片持續(xù)生長GaAs模, 工作T<GaAsTm,不伴隨基片熔化。 基于液態(tài)外延生長術——液相外延(LPE),有缺點,性能更好氣相外延(VPE)取代。,外延生長條件: 吸附原子表面擴散速率; 基體與薄膜結晶相容性; 基體表面狀態(tài)。,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5.
27、 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,B、分子束外延(MBE)——超高真空汽化低溫過程 過程:加熱幾個裝生長材料成分熔爐(電子束加熱),汽化,發(fā)射原子飛行過程結合形成新分子束,被基片表面吸收。 控制不同材料蒸汽速率,膜生長慢(0.01-0.03µm/h); 優(yōu)點:低溫,膜與基片間不擴散, 適用生長應變多量子阱(MQW);
28、MBE(分子束外延)起源MQW。,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,量子阱:2種不同半導體相間排列成,明顯量子限制效應電子或空穴勢阱。 特征:量子阱寬度限制(足夠小形成),載流子波函數一維向局域化。
29、 三明治結構,中間薄層半導體膜,外側兩隔離層。,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,InAsP MQW PL強度與阱數關系,量子阱使量子點有效發(fā)光,nm晶體表面涂層有機分子,阻礙外來電子刺激量子點發(fā)光。
30、美國洛斯阿拉莫斯國家實驗室將CdSe量子點放在“量子阱”上,量子阱為媒介間接刺激量子點發(fā)光。發(fā)光二極管效率?一倍。 200710 Nature,① 沉 積 ② 外延生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,,,① 沉 積 ② 外延
31、生長,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,,,,,,,,有些位置空出,雜質原子乘虛入,占據——補空式(a); 無空位,雜質原子通過晶格間隙擴散進基片——填隙式(b); 兩種都向基片內擴散——向內擴散。,表面改性用于制波導,簡單法擴散。
32、 基片與摻雜材料直接接觸,后者固,液或氣體。 二者加熱800-1000℃,熱能?,摻雜物和基片原子比室溫活潑。 基片原子受晶格限制,平衡位置附近振動。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,① 擴 散 ② 離子交換與質子交換 ③
33、 離子注入,,,基片原子沿與雜質原子反方向擴散——向外擴散。,向內擴散用于制波導裝置; 如LiNbO3基片放層金屬Ti,擴散形成Ti:LiNbO3波導。,向內擴散,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,① 擴 散 ② 離子交換與質子交換 ③ 離
34、子注入,交換過程:基片和某種材料熔融物。 某種活潑離子在基片中濃度比熔融物中高;另種活潑離子在熔融物中濃度比基片中高。基片浸入熔融物,低T(200-400℃),兩種離子相對擴散,基片和熔融物成分交換。 二者極化率差引起n變,用于制造波導。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開
35、關和調制器 三、干涉濾波器,① 擴 散 ② 離子交換與質子交換 ③ 離子注入,掩模對離子起擋板作用, 離子通過開槽運動,開槽區(qū):Na+脫離基片向熔液擴散;Ag+向基片擴散,取代Na+位置。輕Na+被重Ag+取代基片窄條n?,形成條紋通道波導。外加E強化Ag+向基片擴散,縮短t,得較深均勻擴散。,圖基于離子交換用鈉鈣玻璃(SiO2,Na2O和其他金
36、屬氧化物混合物)制通道波導原理。,玻璃基片涂掩模,上開窄條形槽,浸入AgNO3熔融物。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,① 擴 散 ② 離子交換與質子交換 ③ 離子注入,離子注入——用于半導體摻雜。原理: 離子進基片,不同方式高真空進行,
37、裝置復雜昂貴。 離子源熔融爐,靜電法抽取離子束,含不同離子, 注入元素單電荷離子,有雙電荷和雜質離子。 對電荷或原子重量敏感濾波器(質量或維恩Wien過濾器), 選種離子,選出離子束被高壓(100-1000kV)加速,離子高速打擊基片,進入。,進入基片離子與基片原子不斷碰撞損失能量。 最終某深度停,實現離子注入。 基片原子碰撞錯位,注入結束對基片退火。
38、,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,① 擴 散 ② 離子交換與質子交換 ③ 離子注入,膜層制好,成形,去除不需材料——刻蝕。 去除或刻蝕,依據純物理或化學過程,可結合。 根據:是否要求真空和 有無用掩模分類。,早期化學濕刻蝕;
39、現代微加工含真空刻蝕; 后者——刻蝕。 設備復雜,改進控制水平,有高度可選擇性和定向性優(yōu)點,廣泛用。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,干刻蝕:純物理,物理/化學結合法。 物理法(1)——濺射法: 被刻蝕材料原子受離子轟擊從表面發(fā)
40、射。 過程射頻濺射刻蝕,射頻濺射沉積變型,電極連接與沉積過程相反,基片不是靶被轟擊,離子打擊基片有角度,刻蝕有方向性。 物理法(2)——離子束刻蝕:直流濺射鍍膜變型。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,刻蝕需定位。 希望對基片小面積刻蝕
41、,基片沉積層掩模,需要刻蝕基片位置對掩模開槽。 對掩模材料性質要求有比基片低得多濺射速率,比基片被刻蝕更慢。 純物理法對不同材料刻蝕速度差別小,掩模與基片以相同速率被刻蝕,刻蝕深度受限。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,解決刻蝕深度受掩模
42、限制措施: 用無掩模選擇性刻蝕——聚焦離子束(FIB)微加工技術,將離子束控制在小范圍局部濺射。 為將基片上對離子曝光區(qū)限制在一小點,濺射高度定位,計算機控制,基片上刻要求圖案。 不存在掩模問題,允許刻蝕深度達數十?m,光電子學領域應用。 缺點: 串行過程,生產效率受限; 濺射材料在表面其他處重沉積。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5
43、. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,FIB缺點由活性離子刻蝕(RIE)克服。 物理和化學結合,類濺射技術,惰性氣體被活性分子氣體取代。 氣體分解產物(離子)與基片反應在低溫形成易揮發(fā)化合物。 并行過程,借助掩模大面積快速刻蝕;選擇掩模材料和工作氣體,允許深層刻蝕;氣流有方向性,刻蝕高度定向;生成物從基片表面抽走,避免重新沉積。理想刻蝕法。,無
44、掩模選擇性刻蝕——聚焦離子束(FIB)缺點: ① 串行過程,生產效率受限; ② 濺射材料在表面其他地方重新沉積。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,AlTi,制造Ti:LiNbO3方向耦合波導掩模板平面圖。 一
45、層Ti金屬圖案, 確定擴散區(qū)(無陰影); 另層A1金屬圖案, 確定電極輪廓(陰影);,對每層分別作塊模板,高精度將二者套準; 光學法將模版上圖案轉換到基片; 原理:用光敏有機材料或感光樹脂特性。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性
46、5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,工藝: 制備一塊掩模板——一片玻璃, 覆Cr金屬暗板;印刷方式將此主板拷貝到基片上。,圖轉換過程,基片鍍帶感光性樹脂成圖形膜,高倍顯微鏡將掩模板與基片對準緊固一起;,紫外光UV對樹脂曝光; 基片顯影,膜上得樹脂
47、圖案; 不希望膜光刻; 去除剩余樹脂,得波導裝置。,1. 平板波導加工 2. 基片的制備 3. 波導膜的沉積與生長,4. 材料的改性 5. 刻 蝕 6. 金屬板印刷,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,結構簡單、使用廣泛波導裝置開關和調制器。應用: 光波網絡伺服,保護裝置及旁通開關,信號處理中可編程延時線; 用于t分割多路通信系統(tǒng)高速開關,允
48、許幾個低比特率通道共享同一單模光纖寬頻帶; 信號編碼外調制器,光學開關有兩個或以上可供選用輸出端; 對稱系統(tǒng),有相應數量輸入端。,開關參數: 開關驅動電壓; 開啟與導通態(tài)間串擾; 光學插入損耗。 對t分割多路傳輸及信號編碼,開關速度重要。 方向耦合器: 平衡橋干涉儀; 交叉波導開關; 它們變型。,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,不
49、同形式耦合器各種功能: ?濾波; 偏振選擇。,可調衰減器,波導型定向耦合器,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,硅絕緣體(SOI)電光調制器結構,集成光波導耦合器,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,LiNbO3光調制器是Mach-Zehnder(馬赫—曾德爾)干涉儀(MZI)行波電極強
50、度光調制器。,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,方向耦合器由一對相距近相同條狀波導組成。 兩波導消逝波重疊,從一波導輸入光通過耦合進入第二個波導。單位長度耦合系數依賴:波導參數、導波?及兩波導間隙。 特性由兩波導傳播常數差?? 及耦合長度L表示: N1和N2兩波導有效n. 定義:,集成光波導耦合器,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一
51、、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,歸一化參量,缺點: 無外加V實現渡越,互作用長度L精確=耦合長度整數倍,制造難; L相當于Lc(耦合長度)若干倍,要求L較大,需高驅動V.,表現狀態(tài):要求導通與開啟態(tài)間有小串擾開關,第一問題嚴重,L’≠nL調制器(n整數),導通態(tài)高損耗; 低V下高速調制,第二問題嚴重,
52、 ?電極間隙使要求驅動V?.,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,波導濾波器,單模波導濾波器重要元件用于多路通信系統(tǒng)長歷史。 濾波器參數: 中心?;通帶寬度; 峰值濾波效率; 旁瓣等級和 電氣可調諧性。,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,波導濾波器,濾波帶寬取決應用
53、: 使容差最小,用寬帶濾波器; 有很好控制源多路通信,要求濾波器窄帶寬。 對系統(tǒng)設計者,能有效覆蓋較大帶寬范圍濾波器重要。,1. 方向耦合器 2. 濾波器和偏振選擇裝置,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器,干涉型光開關,X交叉型,圖干涉濾波器。 兩臂長度不等Y形分叉干涉儀,分束器和復合器有與干涉調制器相應器件同樣功能。,MD型,一、波導的制造 二、開關和調制器 三、干涉濾波器
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