電子元器件的貯存可靠性研究.pdf

1、電子元器件貯存狀態(tài)下的可靠性，對(duì)于“長(zhǎng)期貯存，一次使用”的軍用電子裝備而言，具有重要意義。通過開展電子元器件的長(zhǎng)期貯存試驗(yàn)，對(duì)其進(jìn)行考核和評(píng)價(jià)，使之能為裝備可靠性設(shè)計(jì)提供參考、依據(jù)和基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，是一項(xiàng)重要的任務(wù)。 首先，介紹了貯存狀態(tài)下環(huán)境應(yīng)力對(duì)電子元器件的影響。詳細(xì)論述了熱效應(yīng)、化學(xué)效應(yīng)、及輻射損傷等對(duì)器件的影響。器件內(nèi)部材料的熱不匹配是熱應(yīng)力產(chǎn)生的內(nèi)因，貯存環(huán)境溫度變化是外因?；瘜W(xué)效應(yīng)能對(duì)器件的外引線、封裝、及芯片內(nèi)部的金屬化

2、系統(tǒng)、金-鋁接觸、內(nèi)引線等造成腐蝕。 其次，論述了電子元器件兩種貯存可靠性評(píng)價(jià)的方法：自然貯存評(píng)價(jià)和加速應(yīng)力評(píng)價(jià)，同時(shí)也詳細(xì)介紹了本研究的試驗(yàn)方案。根據(jù)目前的試驗(yàn)結(jié)果，總結(jié)了失效率數(shù)據(jù)，同時(shí)也統(tǒng)計(jì)分析了器件在貯存期間性能變化，以及不同貯存地區(qū)之間非工作可靠性的差異。 第三，研究了電子元器件貯存狀態(tài)下的失效模式和失效機(jī)理。試驗(yàn)結(jié)果表明，腐蝕、鍵合缺陷和貼裝失效是造成器件非工作失效的主要原因。并根據(jù)試驗(yàn)中暴露的失效模，分析原