超低剩余反射計的研究與設計.pdf

1、在光學光電子技術中，端面剩余反射率是光電元件的一項重要技術指標，對元件性能起著至關重要的作用。因此一種簡便快捷的高精度的測量方法對于實際生產和科學研究都具有十分重要的意義。 連續(xù)光反射計法是一種簡便快捷的測量反射率的方法，在生產和科研中得到大量應用。在實際應用中，往往需要對極低的剩余反射率進行檢測，而對超低剩余反射率的測量具有很大難度?；诖?，本文對超低剩余反射率的測量方法和原理做了系統(tǒng)分析和研究，并應用此研究成果設計制作出超低

2、剩余反射計樣機一臺。主要科研成果如下： (1)在詳細分析了反射率測量的各種方法的基礎上，提出了一種實用型超低剩余反射率測量系統(tǒng)的原理和總體方案，創(chuàng)新性的將雙光纖準直器應用于本系統(tǒng)，并針對其關鍵技術作了深入分析。 (2)設計了超低剩余反射率測量系統(tǒng)，詳細闡述了從總體設計到模塊設計的方法和過程。具體設計了光源模塊中的恒功率控制和恒溫控制驅動電路，光功率檢測模塊中的微弱信號檢測電路和自動量程控制電路及相關控制軟件。并且作為