基于AMBA總線(xiàn)的嵌入式FLASH安全控制器的設(shè)計(jì)驗(yàn)證.pdf

1、在現(xiàn)在的片上系統(tǒng)(System on chip，SoC)設(shè)計(jì)中，芯片的啟動(dòng)程序和用戶(hù)程序(包括操作系統(tǒng))往往是分開(kāi)存儲(chǔ)的，即片內(nèi)存儲(chǔ)器存放啟動(dòng)代碼，片外存放用戶(hù)程序和數(shù)據(jù)，造成用戶(hù)程序的安全性存在風(fēng)險(xiǎn)。本文所實(shí)現(xiàn)的一款嵌入式FLASH(快閃存儲(chǔ)器)則可以將啟動(dòng)程序和用戶(hù)程序一起存儲(chǔ)嵌于芯片內(nèi)部，并且采用目前最廣泛的AMBA(Advanced Microcontroller Bus Architecture)2.0總線(xiàn)技術(shù)，對(duì)該FLASH

2、的控制器進(jìn)行設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，以準(zhǔn)確達(dá)到整個(gè)芯片對(duì)程序存儲(chǔ)和讀取的設(shè)計(jì)需求。
　　本文中控制器的實(shí)現(xiàn)方式，是通過(guò)可配置的控制方式靈活實(shí)現(xiàn)對(duì)不同存取速度的操作。在主要的邏輯設(shè)計(jì)中采用總線(xiàn)接口和存儲(chǔ)器接口模塊合理劃分的方法，可方便對(duì)控制器的設(shè)計(jì)進(jìn)行維護(hù)和優(yōu)化，并采用Verilog硬件描述語(yǔ)言完成設(shè)計(jì)。針對(duì)該FLASH存儲(chǔ)器的物理測(cè)試，采用了測(cè)試模式的集成方式。而針對(duì)FLASH控制器的功能驗(yàn)證，采用模塊級(jí)到系統(tǒng)級(jí)層次的驗(yàn)證，對(duì)控制器所有功能點(diǎn)