手機通訊原理與測試.pdf

1、一般來說測量和調(diào)整發(fā)射功率影響最大的是線路衰減，大部分測試工程師的工作就是檢測線路衰減的準確數(shù)據(jù)。通常線路衰減指的是：在測試單元射頻輸出到自動化測試設備之間的射頻電纜、射頻開關和射頻連接器的所有損耗。因此，射頻衰減在自動化測試設備到測試單元之間的功率測量結(jié)果為：
　　 測試單元射頻輸出功率（dBm）=自動化測試設備功率（dBm）+線路衰減（dB）
　　 然而，測量測試單元的射頻輸出功率是不能像公式寫的那樣很精準的去測量。

2、在現(xiàn)實中，可能會出現(xiàn)許多不正確或不相干的信號源的干擾從而引起在測量時發(fā)生偏差。測量的偏差和如何減少它們的影響我將會在我的論文中描述。在此我想說的在測量中的一個不確定因素就是自動化測試設備它自己，依據(jù)實驗的結(jié)果它一般會產(chǎn)生+/-0.5 dB的偏差。為了減小測試單元的射頻輸出功率的測量偏差，Cal-Cart在測量時包含了這個自動化測試設備的設備損耗（參考一個電源表）作為一部分線路衰減的參考值。因此這個Cal-Cart的線路衰耗定義就是：

3、r>　　 Cal-Cart的線路衰耗（或指線路衰耗）是在測試單元和自動化測試設備之間的設備的正負絕對值的誤差。（可以在其中串聯(lián)的一個電源表來測量）
　　 雖然把自動化測試設備的誤差算到了線路衰減中是很重要的，但關鍵的Cal-cart的準確性是靠電源分離器。這個電源分離器會連接在一個已較準過的電源，然后再參考之前所提到的電源表，來測量整個線路的衰減。
　　 在某些情況下它是被要求絕對精準的測量出來，例如在實驗室中。但是在

4、我們的生產(chǎn)線和普通環(huán)境下，環(huán)境因素就不可能那么精確的測量出來。的確，在不確定的設備中測試數(shù)據(jù)只要其絕對數(shù)據(jù)誤差小于+/-0.2 dB并且這個趨勢一直保持我們就是可接受的。雖然很難去達成如此高的精度，但它可以依照如下方式來做：
　　 ·Cal-Cart測量自動化測試設備的線路衰減，并依照GageR&R的固定時間表來描繪射頻衰減的狀況。我們通過研究它就能找到衰減的具體情況了。
　　 ·保持測試車測試時的室溫穩(wěn)定。用于測量的儀

5、器是對溫度非常敏感的。（測試設備有：VSA，Momentum，CMU200，等等測試設備）
　　 ·確保在測試臺中測試的手機射頻接口有至少20dB的衰減反饋。請注意，射頻耦合器和一些觸針等組成的射頻接口是不能校準的，因為他們不是實際用于測試的測試臺接口。我們可以用FinalUI的射頻接口和信號功率控制器（CMU2000，8960）等設置一個相關的衰減補償。因此，F(xiàn)lali的線路衰耗測量就顯得尤為重要了。只要能測量好它就能保證手機

6、后面的射頻測試。
　　 接下來，我將介紹一下相關測試所用的測試臺。一般在生產(chǎn)中測試臺分三大類，接下來我將逐一介紹：
　　 Flali（Flash and alignment）測試臺用于刷新開機程序，精細的檢測射頻回路并且調(diào)整一些基帶測試值。生產(chǎn)時，會有操作員或機械手來完成主板的拿取，在測試臺內(nèi)部會有兩個卡具分為上卡具和下卡具分別咬合來固定主板，并且連接好測試點。
　　 FU（Final and UI）測試臺用于測

7、試組裝好的手機。它將檢查手機的用戶界面，例如鍵盤，顯示屏，攝像頭，和音頻系統(tǒng)（MIC&EAR）。射頻的測試將會用耦合或檢測點的方式來檢查，射頻方面僅對呼叫做測試，所有關于信號及波形的調(diào)整應該在FLALI測試臺做。
　　 LABEL測試臺用于選擇不同的語言包（程序其實已經(jīng)在FLALI或Panel Flash灌好了）IMEI程序和標簽打印。LABEL可以做許多種測試，但一般絕大部分的測試應該已經(jīng)在之前的測試階段就做好了。
　　

8、 由于日新月異的手機發(fā)展，導致需要測試的項目越來越多。怎么能讓上面介紹的設備在最短的時間內(nèi)完成手機的全部測試就是我們需要研究的課題。應該說，以前的技術已經(jīng)不能很好的完成短時間測試，我們必須要找到一個新的方法。非信令測試就是在這種情況下應運而生的，它取代了以往每測試一項信號，需要建立連接，傳輸指令到測試臺的老方法，取而代之的是通過信令集成一束同一發(fā)給測試臺，同個軟件及測試臺公共完成整體測試。這樣更簡單、快捷、高效地完成了整部手機的測試，