基于STM32的殘余電壓測(cè)試儀研制.pdf

1、家用電器內(nèi)部存在的容性器件會(huì)在斷電后向插頭釋放殘壓電荷,當(dāng)放電電壓過(guò)高時(shí),會(huì)使誤觸插頭的用戶發(fā)生觸電的危險(xiǎn)。目前國(guó)內(nèi)有相應(yīng)的安全條款規(guī)定,限制電器內(nèi)部對(duì)外放電的電壓和持續(xù)時(shí)間。但是,有效測(cè)量電器殘壓放電參數(shù)的儀器設(shè)備并不完善,目前常用的有人工手動(dòng)切斷電源和使用EMC電壓跌路儀兩種方法進(jìn)行測(cè)量。前者存在斷電時(shí)刻無(wú)法控制,誤差大,重復(fù)操作率高等限制,效率和檢測(cè)精度較低;后者雖然效果較好,精度高,但是器材價(jià)格昂貴,體積較大,不便于推廣。

2、>　　針對(duì)上述問(wèn)題,本課題研制了一套性能較好、成本低而且便攜的電器殘壓測(cè)試儀。該設(shè)備通過(guò)對(duì)交流信號(hào)波峰(谷)的同步捕獲來(lái)預(yù)計(jì)周期性的波峰(谷)抵達(dá)時(shí)間。同步捕獲算法選用穩(wěn)定可靠的相關(guān)算法和均方誤差算法。
　　硬件和軟件系統(tǒng)圍繞以STM32F407高性能32位微控制器為核心的平臺(tái),使用多通道的高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行采樣。STM32F407中的浮點(diǎn)處理器調(diào)用DSP庫(kù)根據(jù)算法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行單精度浮點(diǎn)處理。最后處理器依據(jù)得到的預(yù)測(cè)結(jié)果在指定時(shí)刻釋