雙向激光掃描檢測系統的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在單向激光掃描檢測技術的基礎之上,提出了一種雙向激光掃描檢測系統,其采用激光掃描檢測技術與特殊光學系統相結合,用準直半導體激光掃描光束對被測工件徑向某一截面的兩個相互垂直方向同時掃描,經掃描接收光學系統、高速光電變換、電子學系統和微機數據處理系統,對將攜帶有垂直方向被測量信息的光束進行處理,實現了回轉體工件同一截面兩個垂直方向的徑向尺寸和橢圓度等參數的非接觸自動測量,解決了同時非接觸測量回轉體零件同一截面兩個徑向尺寸的難題,它具有高速,

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