半導(dǎo)體制冷片特性參數(shù)的測(cè)試方法及系統(tǒng)研究.pdf

1、隨著人類環(huán)保意識(shí)的提高以及半導(dǎo)體制冷技術(shù)難關(guān)的攻克，半導(dǎo)體制冷片的應(yīng)用范圍越來(lái)越廣，我國(guó)在中低端半導(dǎo)體制冷領(lǐng)域已經(jīng)形成規(guī)?；a(chǎn)業(yè)。目前國(guó)內(nèi)的半導(dǎo)體制冷片測(cè)試儀器大都被國(guó)外的儀器公司壟斷，國(guó)內(nèi)的半導(dǎo)體制冷片生產(chǎn)廠家無(wú)力購(gòu)買這些昂貴的進(jìn)口儀器，測(cè)試儀器的缺失給制冷片的出廠檢驗(yàn)帶來(lái)了極大的不便。因此研發(fā)一種能夠快速地測(cè)試半導(dǎo)體制冷片特性參數(shù)且方法簡(jiǎn)便﹑結(jié)果可靠﹑精度滿足國(guó)內(nèi)工業(yè)生產(chǎn)要求﹑價(jià)格適中的測(cè)試系統(tǒng)具有重要的意義與實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。

2、　　本文首先分析了傳統(tǒng)的測(cè)試方法在測(cè)試半導(dǎo)體制冷片特性參數(shù)時(shí)的不足，對(duì)傳統(tǒng)的測(cè)試方法進(jìn)行了優(yōu)化與改進(jìn)。其中重點(diǎn)研究了電阻值R0與優(yōu)值系數(shù)Z的測(cè)試方法，在測(cè)試R0時(shí)提出了一種利用小電流值的交變電流驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體制冷片的方法來(lái)提高測(cè)試精度；測(cè)試優(yōu)值系數(shù)Z時(shí)，在對(duì)半導(dǎo)體制冷片工作時(shí)冷熱兩端熱平衡公式的推導(dǎo)以及當(dāng)恒流源驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體制冷片時(shí)其兩端電壓特性的分析的基礎(chǔ)上提出了一種優(yōu)值系數(shù)Z的快速測(cè)試法。
　　硬件方面，應(yīng)用STM32作為系統(tǒng)的核心控

3、制器，根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的需求設(shè)計(jì)了本文的四個(gè)關(guān)鍵電路即可調(diào)恒流源電路、逆變電路、信號(hào)采集電路、溫度采集電路。其中重點(diǎn)介紹了可調(diào)恒流源電路的設(shè)計(jì)，通過(guò)對(duì)比不同的恒流源設(shè)計(jì)方案，本文最終選擇了電流串聯(lián)負(fù)反饋機(jī)理構(gòu)成的恒流源電路。軟件方面，結(jié)合硬件部分編寫了STM32各模塊的驅(qū)動(dòng)程序，利用C＃編寫了上位機(jī)程序。
　　本文對(duì)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體制冷片測(cè)試系統(tǒng)中可能影響測(cè)試結(jié)果的模塊進(jìn)行了分模塊化測(cè)試，給出了改進(jìn)的意見；對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的精度﹑重復(fù)性以及穩(wěn)定