X射線吸收光譜測(cè)量系統(tǒng)研究.pdf

1、X射線技術(shù)近些年得到了快速發(fā)展，被廣泛應(yīng)用于物質(zhì)檢測(cè)和識(shí)別，尤其是公共場(chǎng)所違禁物品的檢測(cè)。目前應(yīng)用的主要技術(shù)有單能量X射線技術(shù)、多視角X射線技術(shù)、雙能量X射線技術(shù)、計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)以及X射線散射技術(shù)等。這幾種技術(shù)大部分最后都是通過(guò)成像的方式來(lái)進(jìn)行物質(zhì)識(shí)別，其中雙能量X射線成像技術(shù)利用待檢測(cè)物質(zhì)對(duì)兩種能量的X射線吸收的程度不同，測(cè)得物質(zhì)的有效原子序數(shù)，從而達(dá)到物質(zhì)識(shí)別的目的。本論文研究主要基于物質(zhì)對(duì)X射線的吸收作用機(jī)理，主要研究?jī)?nèi)容包括

2、以下部分:
　　首先，研究了當(dāng)前主要的物質(zhì)識(shí)別方法，對(duì)其進(jìn)行了介紹，并且將其優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)對(duì)比。
　　其次，研究了組織光學(xué)近些年的發(fā)展，了解到紅外的穿透能力有限是制約組織光學(xué)發(fā)展的一個(gè)重要因素，而良好的穿透能力恰好又是X射線的優(yōu)勢(shì)，因此決定將組織光學(xué)的分析方法推廣到X射線物質(zhì)識(shí)別領(lǐng)域。
　　然后，仔細(xì)研究了目前X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)光譜的理論以及發(fā)展。同時(shí)為了進(jìn)行X射線吸收光譜物質(zhì)檢測(cè)，實(shí)驗(yàn)室研制了一臺(tái)X射線吸收光譜檢測(cè)