基于ARM的電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)儀系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁(yè)
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1、在工業(yè)生產(chǎn)中,大量非線性和沖擊性電子設(shè)備的應(yīng)用,給電網(wǎng)帶來(lái)了大量諧波、電壓擾動(dòng)、閃變等污染,造成電能質(zhì)量的降低。為保證對(duì)電能質(zhì)量的監(jiān)管和治理,高精度的電能質(zhì)量分析設(shè)備的研發(fā)尤為重要。
  本文對(duì)電能質(zhì)量分析設(shè)備在國(guó)內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r進(jìn)行研究,結(jié)合嵌入式技術(shù),提出了以ARM9為處理器核心,以u(píng)c/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)為軟件核心,集測(cè)量、存儲(chǔ)、顯示、通信功能于一體的電能質(zhì)量分析設(shè)備的設(shè)計(jì)理念。
  首先,本文根據(jù)國(guó)標(biāo)中測(cè)量要求

2、,對(duì)頻率、基本電參數(shù)、諧波等參數(shù)測(cè)量方法進(jìn)行理論闡述,重點(diǎn)介紹了FFT諧波分析和電壓波動(dòng)閃變的測(cè)量原理。在FFT頻譜分析中,選擇采用同步采樣和漢寧窗函數(shù)修正方法,以消除頻譜分析中柵欄效應(yīng)和頻譜泄露對(duì)測(cè)量的影響。閃變測(cè)量中,為解決IEC閃變儀在實(shí)現(xiàn)上的困難,提出了一種采用FFT的離散數(shù)據(jù)處理代替時(shí)域?yàn)V波的算法。
  其次,系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)部分在uc/OS-II移植的基礎(chǔ)上,詳細(xì)介紹了以u(píng)c/OS-II為核心的軟件整體構(gòu)架,合理分配了采集

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