基于OVM的SoC驗(yàn)證平臺的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著 SoC設(shè)計(jì)規(guī)模和復(fù)雜程度的不斷提高，其驗(yàn)證工作日益復(fù)雜，驗(yàn)證周期也越來越長，已經(jīng)占到整個(gè)芯片設(shè)計(jì)的70％左右甚至更高，已成為 SoC設(shè)計(jì)的主要瓶頸。因此縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期，減少驗(yàn)證時(shí)間，提高驗(yàn)證工作的效率和質(zhì)量成為當(dāng)務(wù)之急。為了提高驗(yàn)證效率，就需要盡可能的提高驗(yàn)證系統(tǒng)的抽象級別、增強(qiáng)驗(yàn)證平臺的可重用性以及提高驗(yàn)證過程的自動化程度。
　　本文通過對當(dāng)前常用驗(yàn)證技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)分析的基礎(chǔ)上，詳細(xì)分析和研究了新興的OVM驗(yàn)證方法學(xué)。該驗(yàn)

2、證方法學(xué)是一種集基于事務(wù)級建模，基于斷言和基于覆蓋率驅(qū)動為一體的高級驗(yàn)證方法學(xué)，可以實(shí)現(xiàn)高效率、高覆蓋率、驗(yàn)證過程高度自動化以及可重用性高的驗(yàn)證平臺。本文對 OVM驗(yàn)證環(huán)境組件 OVC、類庫結(jié)構(gòu)以及 OVM的通訊機(jī)制和互連機(jī)制進(jìn)行了深入的分析和研究。
　　本文還以 OVM驗(yàn)證方法學(xué)為指導(dǎo)，根據(jù)對待測設(shè)計(jì)跟蹤系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和功能特性的分析，搭建了基于 OVM的驗(yàn)證平臺。并根據(jù)制定好的驗(yàn)證情景，采用了事務(wù)級建模、基于斷言和基于覆蓋率驅(qū)動等