基于表面等離子體光學的超高分辨率圖像防偽技術研究.pdf

1、隨著全球商品制造業(yè)的迅猛發(fā)展，全球商品的保有量持續(xù)上升，但是由于現(xiàn)有的防偽技術中普遍存在著較為低效的防復制性問題，導致了假冒偽劣產(chǎn)品的泛濫，使廣大消費者對商品市場心有余悸。為了保障廣大消費者的利益和維護企業(yè)品牌的名聲，研制新型的光學圖像防偽技術成為了當前表面等離子體光學與計算機圖像圖形學領域中一個重要的研究課題。
　　本文結合表面等離子體光學和計算機圖像圖形學的特點，主要圍繞模式識別算法、金屬表面等離子體光學和納米加工技術，研究了

2、利用由不同直徑、不同間距的金納米圓盤所組成的納米陣列結構作為圖像像素點的納米光學防偽技術，具體的研究方法包括：
　　(1)利用FDTD模擬軟件計算出以四個為一組的金納米圓盤陣列的散射光譜特性，并根據(jù)CIE顏色空間的數(shù)據(jù)，利用顏色感知算法將由不同直徑、不同間距的金納米圓盤所組成的納米陣列結構的光譜圖與 RGB彩色空間進行轉換，得出相對應的81種RGB色彩值，并構建顏色匹配數(shù)據(jù)庫；
　　(2)為了確保圖像中重要信息的完整保留，利

3、用數(shù)字圖像處理算法對任意原圖像進行圖像邊緣檢測和連接、RGB分解和歸一化處理，并使用色彩匹配算法將處理后的圖像與顏色匹配數(shù)據(jù)庫進行配對，導出由81種顏色組成的MATLAB圖像和控制電子束曝光的目的版圖；
　　(3)基于10nm尺度圖形加工技術，制作物理尺寸小于250nm的金納米圓盤陣列結構，利用其作為圖像中的像素點，并根據(jù)目的版圖控制像素點的排列組合順序，生成超高分辨率彩色圖像。
　　利用上述研究方法，當把圖像中每一個像素點