線性工具痕跡檢驗(yàn)關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，以及刑事偵查的需要，痕跡檢驗(yàn)技術(shù)在我國(guó)得以迅速地發(fā)展。工具痕跡檢驗(yàn)鑒定是痕跡檢驗(yàn)的一個(gè)分支，是同人民生命財(cái)產(chǎn)、社會(huì)安定和工業(yè)發(fā)展緊密聯(lián)系的一門技術(shù)。但是，傳統(tǒng)的工具痕跡檢驗(yàn)主要是人工檢驗(yàn)，存在著檢驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)，效率低，檢驗(yàn)精度隨檢驗(yàn)人員經(jīng)驗(yàn)而異等缺陷。因此，實(shí)現(xiàn)工具痕跡的數(shù)字化檢驗(yàn)顯得極其重要。本文圍繞工具痕跡檢驗(yàn)開展了一系列研究，運(yùn)用計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理、特征提取和比對(duì)識(shí)別，從而實(shí)現(xiàn)工具痕跡檢驗(yàn)的數(shù)字

2、化和智能化。
　　本論文主要研究一類具有線條狀特征的工具痕跡，并借助數(shù)字圖像處理技術(shù)，初步建立了線性工具痕跡檢驗(yàn)系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要包含三個(gè)子系統(tǒng)：檢索系統(tǒng)、直線比對(duì)系統(tǒng)、手動(dòng)比對(duì)系統(tǒng)。其主要內(nèi)容有：
　　(1)研究了Ripplet變換和量子遺傳算法的一些基本概念和理論，針對(duì)對(duì)比度弱、清晰度低的工具痕跡圖像，采用一種基于CS-RT變換和改進(jìn)量子遺傳算法的自適應(yīng)增強(qiáng)方法。分別對(duì)高低頻系數(shù)采取不同的增強(qiáng)方法，實(shí)現(xiàn)線性工具痕跡圖像增強(qiáng)

3、。
　　(2)研究了圖像紋理分析理論，采用灰度共生矩陣、灰度共生矩陣與小波變換結(jié)合、小波變換等紋理分析方法對(duì)增強(qiáng)后的工具痕跡圖像進(jìn)行特征提取，并比較各種方法的識(shí)別率。最后采用Sym4小波變換進(jìn)行三層分解，計(jì)算LL、LH1、LH2、LH3四個(gè)通道的小波系數(shù)能量和標(biāo)準(zhǔn)差，作為線性工具痕跡圖像的特征向量。
　　(3)采用歐氏距離的相似性度量方法，實(shí)現(xiàn)線性工具痕跡圖像檢索。
　　(4)為了進(jìn)一步驗(yàn)證初步識(shí)別的準(zhǔn)確性，直線比對(duì)子