半電波暗室的低頻性能研究.pdf

1、隨著無線通信技術(shù)的不斷發(fā)展與應(yīng)用，電子電氣產(chǎn)品與系統(tǒng)的電磁兼容性問題顯得尤為重要。作為電磁兼容測試系統(tǒng)的重要組成部分—半電波暗室發(fā)揮著不可替代的作用。同時(shí)，半電波暗室的性能也受到了越來越多的關(guān)注，特別是隨著工作在低頻段的電氣電子設(shè)備和系統(tǒng)的數(shù)量不斷增加，半電波暗室的低頻性能對(duì)于準(zhǔn)確評(píng)估其電磁兼容性起到了關(guān)鍵性的作用，因此，對(duì)半電波暗室的低頻性能研究具有重要的意義和廣闊的應(yīng)用前景。本文圍繞半電波暗室的性能指標(biāo)—場均勻性和歸一化場地衰減在低

2、頻段的特性展開研究。主要內(nèi)容如下:
　　(1)基于鐵氧體與屏蔽室的特性分析，采用外推擬合的方法，得到了10kHz～30MHz頻段內(nèi)鐵氧體的電磁參數(shù)，并理論分析了鐵氧體的吸波特性。以二階色散模型在軟件中進(jìn)行材料參數(shù)的設(shè)置，仿真分析了鐵氧體的反射率，根據(jù)理論、仿真和實(shí)測對(duì)比了鐵氧體的吸波特性，從側(cè)面驗(yàn)證數(shù)據(jù)的可行性。同時(shí)，對(duì)屏蔽暗室的諧振特性進(jìn)行了分析，并通過仿真分析可知，鐵氧體能夠抑制屏蔽室的諧振，使半電波暗室在低頻段能夠很好的模擬

3、開闊場。
　　(2)針對(duì)場均勻性的研究，闡述了實(shí)驗(yàn)原理與方法，根據(jù)場均勻性測試方法建立了暗室場均勻性的模型，分析對(duì)比了鋪設(shè)鐵氧體前后的暗室的場強(qiáng)分布，運(yùn)用FDTD算法對(duì)暗室的場均勻性進(jìn)行了仿真分析，并與某暗室內(nèi)場均勻性的實(shí)測值進(jìn)行了對(duì)比分析，結(jié)果表明仿真與實(shí)測值基本吻合。
　　(3)對(duì)于NSA的研究，根據(jù)實(shí)驗(yàn)原理與方法，采用場地參考法對(duì)NSA運(yùn)用FDTD算法進(jìn)行了仿真分析。同時(shí)，進(jìn)行了實(shí)測對(duì)比，對(duì)比結(jié)果表明，仿真與實(shí)測是吻合